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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
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KGD（Known Good Die）測試解決方案

支援高溫常溫測試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支援測試針卡保護方案； 提供測試+分選整套方案；



針卡保護

兩顆並測

高溫常溫

數據合併

型號 KGD測試解決方案
產品優勢 ? 低雜散解決方案；
? 獨家針卡保護專利技術；
? 過載欠壓保護；
? 一次測試兩顆晶片；
? 支援高溫加熱




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